《表1 系统技术参数：X射线成像图像质量影响因素的试验》

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《X射线成像图像质量影响因素的试验》

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成像系统的硬件反应了系统的优良程度。文中的试验系统由X射线源、平板探测器、数据采集系统等组成。X射线源和探测器的技术参数如表1所示。X射线源采用HAMAMATSU微焦点射线源，探测器采用PerkinElmer平板型CMOS（互补金属氧化物半导体）探测器。