《表4 不同距离下目标面的辐照度密度测量值》
具体测量过程如下:首先,将紫外LED阵列模组平放在黑箱上端并点亮向下发光,将紫外辐照计置于黑箱中;其次,通过调节螺母以改变测量面的位置,测量紫外LED模组在不同距离平面上的辐射通量密度,紫外探头与紫外LED阵列模组的距离分别设定为20,40,60,80,100mm;然后,在测量面的垂直(V)和水平(H)方向上分别均匀选取15个测量点测试其辐射通量密度,测量点位置如图10(b)所示;最后,以20V恒定电压点亮紫外LED阵列模组,测量结果如表4所示。在V、H两个方向选取Point-4~Point4的范围内计算照度均匀性,并删除照度下降迅速、参考价值小的外围数据,其中由于h为40mm时测量取点的偏移,该距离下H方向选取Point5~Point3的数据进行计算。由表5可知,与紫外LED模组的距离为20,40,60,80,100mm的目标面上照度的均匀性分别为79.7%、77.5%、75.9%、74.8%、78.9%。
图表编号 | XD00106615100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.10.10 |
作者 | 经周、樊嘉杰、陈威、刘杰、吴伟子、熊衍建 |
绘制单位 | 河海大学机电工程学院、河海大学机电工程学院、常州市武进区半导体照明应用技术研究院、代尔夫特理工大学电气工程数学和计算机科学学院微电子系、河海大学机电工程学院、常州市武进区半导体照明应用技术研究院、河海大学机电工程学院、河海大学机电工程学院、常州市武进区半导体照明应用技术研究院 |
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