《集成电路测试技术与实例》

第一章 可测试结构化逻辑1

1．1简介1

1．2电平敏感设计1

1．3无冒险触发器2

1．4设计结构5

1．5设计规则的优越性7

1．6价格/性能影响8

小结9

第二章 存贮阵列中的应用10

2．1简介10

2．2埋层阵列（Burried Arrays）的设计结构11

2．3测试埋层阵列11

小结13

第三章 锁存器设计14

3．1简介14

3．2影响触发器设计的因素14

3．3触发器设计问题16

3．4“电气”无冒险触发器16

3．5另外的触发器设计法16

小结20

第四章 系统建立和现场服务21

4．1概述21

4．2利用LSSD结构21

小结22

5．1简介23

5．2假设和推导23

第五章 故障率和故障覆盖率23

小结26

第六章 VLSI测试的发展趋势27

6．1简介27

6．2微处理器Ⅰ27

6．3微处理器Ⅱ29

6．4微处理器Ⅲ29

6．5 VLSI测试问题30

6．6测试选择项32

小结32

第七章 随机模式33

7．1概述33

7．2随机模式的应用34

7．4优化策略36

7．3在PLA中应用随机模式36

小结38

第八章 PLA的测试模式生成器39

8．1测试目标和故障假定39

8．2测试生成过程42

8．3特别的结束程序45

8．4故障模型化的要点46

8．5结果48

小结48

第九章 特征分析寄存器和屏蔽错误49

9．1简介49

9．2推导屏蔽边界50

9．3定义和符号52

9．4代数描述推导的屏蔽错误边界53

9．5屏蔽和马尔可夫链54

9．6马尔可夫链分析56

9．7特征分析测试的长度下限60

小结63

第十章 随机模式自测64

10．1一种RP自测结构64

10．2随机自测模式的覆盖率67

10．3为RP的可测试性而修改电路67

10．4修改大型“与”网络68

10．5 PLA电路的一和RP可测试设计71

小结72

11．1简介74

11．2一个随机模式测试系统74

第十一章 随机模式测试系统74

11．3 LSSD随机模式应用方法76

11．4错误模拟结果76

11．5一个随机模式测试器78

11．6测试实验结果78

小结79

第十二章 固定错误模拟80

12．1简介80

12．2组合错误模拟方法80

12．3基准设计的模拟结果82

12．4 PPSFP模拟到LSSD网络的扩展85

12．5随机模式测试86

小结87

13．1简介88

13．2过渡错误的定义88

第十三章 延迟错误模拟88

13．3过渡错误等价类90

13．4过渡错误模拟方法90

13．5基准设计的模拟结果92

13．6扩展到扫描结构化设计94

小结96

第十四章 加权随机模式97

14．1简介97

14．2动机97

14．3 WRP模式应用序列98

14．4初始权产生101

14．5建立一个完全WRP测试的方法107

小结109

15．2基准设计的固定错误覆盖率110

15．3非定型错误110

第十五章 WRP错误覆盖率110

15．1简介110

15．4过渡和桥接错误模拟112

小结115

第十六章 故障诊断116

16．1简介116

16．2由错误模拟执行诊断117

16．3错误表产生118

16．4与故障有关的错误119

16．5论断方法120

16．6随机模式故障诊断122

16．7论断实验123

小结124