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第一章引论1

1.1 关于CCD的基本概念1

1.2 CCD制造技术概述4

1.3 CCD的发明与发展7

1.4 CCD的应用11

1.5 教学要求15

第二章CCD的物理基础——半导体表面层和MIS结构17

2.1 MIS电容17

2.2 半导体表面感生电荷层19

2.3 理想MIS结构的C-V特性28

2.4 实际MIS结构及其C-V特性35

2.5 界面态43

2.6 深耗尽态47

第三章CCD的工作原理51

3.1 表面沟电荷耦合器件(SCCD)51

3.2 埋沟电荷耦合器件(BCCD)83

3.3 注入和输出电路99

第四章红外CCD116

4.1 红外探测器的基本概念117

4.2 红外CCD132

第五章CCD特性分析145

5.1 CCD的势阱最大容量145

5.2 CCD的电荷转移失效率147

5.3 暗电流162

5.4 CCD的噪声164

5.5 CCD的工作频率175

第六章CCD在信号处理方面的应用177

6.1 CCD信号处理功能概念177

6.2 CCD模拟延迟线185

6.3 CCD横向滤波器(CCDTF)202

6.4 CCD相关器224

第七章CCD摄像机的工作原理236

7.1 扫描成像的基本原理237

7.2 CCD摄像机工作原理244

7.3 CCD摄像机应用举例285

7.3.1 CCD计算机图像输入系统285

7.3.2 机载CCD遥感成像系统289

7.3.3 CCD图形轮廓测量系统293

第八章CCD存贮器297

8.1 存储器概念297

8.2 CCD存贮器工作原理302

8.3 CCD存贮器结构305

8.4 CCD存贮器特性分析307

8.5 CCD存贮器的发展及其所面临的问题309

主要参考文献311

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