《微电脑设计与故障检修》
作者 | 施威铭译 编者 |
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出版 | 香港科技出版社 |
参考页数 | 427 |
出版时间 | 1986(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 无 — 求助条款 |
PDF编号 | 88064568(仅供预览,未存储实际文件) |
求助格式 | 扫描PDF(若分多册发行,每次仅能受理1册) |

第一章 微处理机之使用1
目录1
计算机系统——微处理机——微处理机与离散逻辑之比较——控制器功能——微处理机整体之优点——微控制器范例——微处理机之选用——选择微处理机之准则——总记——参考资料29
第二章 发展系统29
问题——现成之发展系统——自制之发展系统——微处理机系统——仿真器——仿真器之建造—EPROM编写器——一般编写器之软体——2716之软体——完整之系统——总记——参考资料99
第三章 微电脑之设计:读/写时序99
第四章 硬体设计:系统之考虑175
导言—读/写时序——汇流线之结构——关于讯号之用语——微处理机时序——记忆体时序——快速处理机或慢速记忆体——族系之混用——非族系I/O装置——结论——参考资料175
导言——汇流线之缓冲——位址之解码——回置与中断之回应——中断之硬体——即时时钟——低功率技巧——测试与维护之考虑——其他——总记——参考资料253
第五章 硬体设计:界面处理253
导言——简易输入/输出——可程式I/O——可程式端口与离散式I/O之比较——非简易式I/O:传输模式与式样——并行式技巧——讯息交换——并行式之标准——串列式技巧——串列式之标准——多元处理——多元处理之硬体——总记——参考资料329
第六章 硬体之测试与故障检修329
导言——测试电路之接线——静态处理机仿真器——SPE之使用——静态测试——动态测试——可有可无之测试仪器——成品之测试与故障检修——总记——参考资料385
第七章 软体设计385
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