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目录1

第一章 基本实验1

实验一 晶体管开关特性测试3

实验二 集成逻辑门测试6

实验三 三态门、OC门的功能测试及其应用13

实验四 组合逻辑电路的设计及功能测试18

实验五 译码器及其应用22

实验六 数据选择器及其应用30

实验七 半加器、全加器及其应用32

实验八 数值比较器及其应用36

实验九 集成触发器39

实验十 移位寄存器和移存型计数器及其应用44

实验十一 计数器及其应用49

实验十二 序列检测器的设计与测试57

实验十三 脉冲信号的产生与整形电路60

实验十四 集成单稳态触发器、施密特触发器及其应用66

实验十五 锯齿电压波发生器72

实验十六 555定时器及其应用76

实验十七 累加/减器和算术逻辑运算单元81

实验十八 大规模集成存贮器RAM和ROM89

实验十九 数模和模数转换器98

第二章 综合实验111

课题一 数字电子钟114

课题二 数字频率计122

课题三 数字电压表127

课题四 射击自动报靶器134

课题五 TTL集成电路自动检测器139

课题六 十字路口的交通灯控制器141

第三章 实验基本知识及常用仪器143

第一节 TTL器件和CMOS器件使用规则143

第二节 TTL器件、CMOS器件、运算放大器之间的接口电路145

第三节 实验注意事项及常见故障检查148

第四节 数字显示器判别法及使用注意事项150

第五节 数字逻辑实验箱151

第六节 双踪示波器153

第七节 数字式频率计166

第八节 逻辑笔171

附录 部分常用集成电路汇集173

附录一 我国数字集成电路型号介绍(含TTL、CMOS电路)173

附录二 国际数字集成电路规范(含TTL、CMOS电路)175

附录三 国内外部分集成电路型号对照表176

附录四 部分常用集成电路汇编176

附录五 部分常用中规模集成电路功能表、真值表和时序波形200

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