《数字电路与脉冲电路实验》

目录1

第一章 数字电路实验方法概述1

§1-1实验方案1

§1-2故障排除2

实验一 仪器使用18

第二章 集成逻辑门20

§2-1TTL逻辑门20

§2-2CMOS逻辑门31

§2-3集电极开路（OC）逻辑门及三态输出（TSL）逻辑门43

实验二 逻辑门的参数测试53

实验三 门电路的逻辑变换54

实验四 集电极开路（OC）、三态输出（TSL）逻辑门的应用54

第三章 集成触发器及其应用57

§3-1TTL触发器57

§3-2CMOS触发器71

§3-3触发器应用举例77

实验五 维持阻塞D触发器80

实验六 触发器的脉冲工作特性81

实验七 触发器的应用83

第四章 集成逻辑功能器件84

§4-1全加器84

§4-2多路分配器和数据选择器92

§4-3计数器和分频器105

§4-4移位寄存器121

§4-5脉冲顺序分配器128

实验八 二－十进制全加器134

实验九 译码器和多路分配器135

实验十 时序电路设计136

实验十一 计数器的应用137

实验十二 数据选择器及其应用138

实验十三 四位双向移位寄存器139

实验十四 脉冲顺序分配器141

实验十五 四位串行累加器141

§5-1组合电路143

第五章 数字电路的可靠性试验143

§5-2同步时序电路156

§5-3异步时序电路165

实验十六 组合电路的险象及其消除177

实验十七 同步时序电路178

实验十八 同步时序电路的设计和试验179

实验十九 异步时序电路的竞争现象179

实验二十 异步时序电路的冒险现象180

第六章 数－模和模－数转换182

§6-1电子模拟开关182

§6-2取样－保持电路192

§6-3模－数转换器（ADC）197

实验二十一 CMOS双向开关和取样－保持电路202

实验二十二 数－模转换203

实验二十三 模－数转换204

第七章 脉冲电路206

§7-1半导体二极管及晶体管的开关特性206

§7-2微分、积分电路和限幅、钳位电路210

§7-3锯齿电压发生器215

§7-4张弛振荡器217

实验二十四 半导体二极管及晶体管的开关特性228

实验二十五 限幅电路和钳位电路229

实验二十六 锯齿电压发生器230

实验二十七 多谐振荡器231

实验二十八 单稳态触发器232

实验二十九 用555电路组成张弛振荡器234

附录Ⅰ常用仪器的原理及使用方法236

§Ⅰ-1JD-802803型数字逻辑电路试验仪236

§Ⅰ-2SR8二踪示波器241

§Ⅰ-3XG-2C型脉冲信号发生器254

§Ⅰ-4E312型电子计数式频率计259

§Ⅰ-5逻辑笔270

附录Ⅱ部分常用数字集成电路汇编272

参考书目281