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第一章 选择指针式万用表的原则1

§1.1 选择指针式万用表的原则1

1.1.1 准确度与误差1

目录1

1.1.2 灵敏度3

1.1.3 电流档的内阻8

1.1.4 测试功能及测量范围11

1.1.5 频率特性16

1.1.6 外观与操作17

1.1.7 过载保护装置18

§1.2 指针式万用表典型产品的技术指标20

第二章 指针式万用表的使用要点21

§3.1 指针式万用表的频率特性及其改善方法32

3.1.1 万用表的频率特性32

分析32

第三章 指针式万用表频率特性及电阻、电容、电感档误差32

3.1.2 改善万用表频率特性的方法34

§3.2 电阻档测量误差的分析38

3.2.1 相对误差νR38

3.2.2 基本误差δR44

3.2.3 相对误差与基本误差的关系46

3.2.4 减小测量误差的方法47

§3.3 电容档及电感档测量误差的分析47

3.3.1 测量电容及电感的原理48

3.3.2 误差分析48

3.3.3 减小测量误差的方法52

§4.1 500型万用表的电路设计原理53

第四章 指针式万用表整机电路设计原理53

§4.2 MF30型万用表的电路设计原理60

第五章 指针式万用表测量技术70

§5.1 万用表测试功能的扩展70

5.1.1 利用电阻档读取负载电流法70

5.1.2 利用电阻档读取负载电压法73

5.1.3 利用电阻档读取负载功率法77

5.1.4 给万用表增加LI、LV刻度线的方法80

5.1.5 利用万用表和兆欧表测量元器件的击穿电压83

5.1.6 准确测量高内阻电源电压（方法之一）88

5.1.7 准确测量高内阻电源电压（方法之二）90

5.1.8 提高电流表灵敏度的方法91

5.1.9 提高直流电压档灵敏度（方法之一）94

5.1.10 提高直流电压档灵敏度（方法之二）96

5.1.11 提高直流电压档输入阻抗的方法97

5.1.12 利用低压档测量高压（方法之一）99

5.1.13 利用低压档测量高压（方法之二）100

5.1.14 展宽直流电压表刻度（方法之一）103

5.1.15 展宽直流电压表刻度（方法之二）104

5.1.16 利用50？档测量毫伏级直流电压（方法之一）106

5.1.17 利用50？档测量毫伏级直流电压（方法之二）107

5.1.18 测量正弦波峰值电压UP108

5.1.19 测量正弦波峰-峰值电压UP-P110

5.1.20 测量周期性非正弦波电压的平均值？、有效值U、峰值UP、峰-峰值UP-P111

5.1.21 线性交流电压表（电路之一）117

5.1.22 线性交流电压表（电路之二）118

5.1.23 增设电池负载电压测试档（BATT）119

5.1.24 准确测量电流的方法121

5.1.25 利用交流电压档测量交流电流的方法123

5.1.26 利用电压降间接测量交流电流126

5.1.27 增设交流电流档127

5.1.28 利用低电流档测量大电流的方法128

5.1.29 测量交流纹波系数ν的方法129

5.1.30 测量低电阻的附加装置130

5.1.31 增设倒欧姆表（DΩ）测低电阻131

5.1.32 增设电子蜂鸣器（BZ）档133

5.1.33 利用直流电压档测量电阻（方法之一）135

5.1.34 利用直流电压档测量电阻（方法之二）136

5.1.35 当表内电池电量不足时利用差值法应急测量电阻值138

5.1.36 扩展高阻测量范围（方法之一）140

5.1.37 扩展高阻测量范围（方法之二）141

5.1.38 在线电阻测量法142

5.1.39 线性欧姆表（电路之一）144

5.1.40 线性欧姆表（电路之二）147

5.1.41 分贝（dB）读数快速修正法148

5.1.42 增加极性转换开关的方法150

5.1.43 自制极性转换探头的方法151

5.1.44 将表头改作零位指示计的方法151

5.1.45 附加f/V转换器测量市电频率153

5.1.46 附加n/V转换器测量转速（电路之一）154

5.1.47 附加n/V转换器测量转速（电路之二）156

5.1.48 附加V/f转换器（电路之一）160

5.1.49 附加V/f转换器（电路之二）162

5.1.50 增设过载用光报警器163

5.1.51 增设过载用声、光报警器165

§5.2 信号发生器和逻辑测试笔166

5.2.1 利用表内蜂鸣器作信号发生器166

5.2.2 附加方波信号发生器（电路之一）168

5.2.3 附加方波信号发生器（电路之二）170

5.2.4 附加秒信号发生器（电路之一）172

5.2.5 附加秒信号发生器（电路之二）174

5.2.6 附加秒信号发生器（电路之三）175

5.2.7 附加秒信号发生器（电路之四）177

5.2.8 附加秒信号发生器（电路之五）180

5.2.9 附加秒信号发生器（电路之六）184

5.2.10 附加占空比可调的矩形波发生器（电路之一）186

5.2.11 附加占空比可调的矩形波发生器（电路之二）186

5.2.12 附加函数波形发生器189

5.2.13 附加精密函数波形发生器191

5.2.14 三态逻辑测试笔（电路之一）196

5.2.15 三态逻辑测试笔（电路之二）197

5.2.16 三态逻辑测试笔（电路之三）198

§5.3 检测半导体二极管200

5.3.1 判定二极管的正、负极200

5.3.2 检查二极管的好坏201

5.3.3 区分硅二极管与锗二极管（方法之一）202

5.3.4 区分硅二极管与锗二极管（方法之二）203

5.3.5 测量二极管的反向击穿电压VBR204

5.3.6 测绘二极管的伏安特性（方法之一）204

5.3.7 测绘二极管的伏安特性（方法之二）207

5.3.8 检查塑封（玻封）硅整流二极管的方法209

5.3.9 检查硅高速开关二极管的好坏212

5.3.10 检查快恢复二极管（FRD）、超快恢复二极管（SRD）的好坏214

5.3.11 检查肖特基二极管（SBD）的好坏217

5.3.12 检查隧道二极管（TD）的好坏222

5.3.13 检查变容二极管（VCD）的好坏224

§5.4 检测双极型晶体管228

5.4.1 判定晶体管电极的方法228

5.4.2 准确判定晶体管C、E电极的方法229

5.4.3 区分硅晶体管与锗晶体管（方法之一）231

5.4.4 区分硅晶体管与锗晶体管（方法之二）232

5.4.5 区分高频管与低频管234

5.4.6 测量晶体管的穿透电流ICEO236

5.4.7 测量晶体管的集电极-基极反向截止电流ICBO238

5.4.8 测量晶体管的发射极-基极反向截止电流IEBO240

5.4.9 测量晶体管集电极-发射极击穿电压V（BR）CEO241

5.4.10 测量晶体管集电极-基极击穿电压V（BR）CBO242

5.4.11 测量晶体管发射极-基极击穿电压V（BR）EBO242

5.4.12 测量晶体管集电极-发射极击穿电压V（BR）CES、V（BR）CER、V（BR）CEX243

5.4.13 估测晶体管的放大能力（方法之一）243

5.4.14 估测晶体管的放大能力（方法之二）245

5.4.15 估测晶体管的hFE（方法之一）245

5.4.16 估测晶体管的hFE（方法之二）247

5.4.17 估测功率晶体管的放大能力249

5.4.18 准确测量晶体管hFE的简便方法250

5.4.19 测量晶体管hFE值的一般方法253

5.4.20 利用LI刻度线测量晶体管的hFE254

5.4.21 估测功率晶体管的hFE255

5.4.22 测绘电视机高、中放管的正向AGC特性257

5.4.23 判定晶体管的工作状态258

5.4.24 晶体管放大器故障速查法260

5.4.25 检查晶体管振荡器是否起振（方法之一）262

5.4.26 检查晶体管振荡器是否起振（方法之二）264

5.4.27 检测功率开关管的方法265

5.4.28 检测巨型晶体管（GTR）的方法267

5.4.29 检测达林顿管（DT）的方法272

5.4.30 检测差分对管的方法276

5.4.31 检测互补对管的方法278

§5.5 检测硅整流桥、硅堆279

5.5.1 检查硅整流桥的方法279

5.5.2 检查高压硅堆（方法之一）282

5.5.3 检查高压硅堆（方法之二）283

5.5.4 检查高压硅堆（方法之三）284

5.5.5 检查高压硅堆（方法之四）285

§5.6 检测稳压二极管和恒流管286

5.6.1 区分稳压管与二极管（方法之一）286

5.6.2 区分稳压管与二极管（方法之二）288

5.6.3 检查稳压管的好坏289

5.6.4 测量稳压管的工作电压Vx（方法之一）290

5.6.5 测量稳压管的工作电压Vz（方法之二）292

5.6.6 测量稳压管的工作电压Vx（方法之三）293

5.6.7 测绘稳压管的伏安特性294

5.6.8 检测恒流二极管（CRD）与可调恒流二极管（VCRD）296

§5.7 检测单结晶体管301

5.7.1 判定单结晶体管（UJT）的电极301

5.7.2 检查单结晶体管的触发能力（方法之一）303

5.7.3 检查单结晶体管的触发能力（方法之二）305

5.7.4 测量单结晶体管的分压比ηv（方法之一）306

5.7.5 测量单结晶体管的分压比ηv（方法之二）310

5.7.6 估测单结晶体管分压比的方法311

5.7.7 计算单结晶体管的峰值电压Vp312

5.7.8 测量程控单结晶体管（PUT）的方法312

§5.8 检测场效应晶体管316

5.8.1 判定结型场效应管（JFET）的电极（方法之一）317

5.8.2 判定结型场效应管的电极（方法之二）319

5.8.3 检查结型场效应管的好坏319

5.8.4 估测结型场效应管的放大能力（方法之一）320

5.8.5 估测结型场效应管的放大能力（方法之二）322

5.8.6 测量结型场效应管的静态漏-源通态电阻RDS（on）及零偏压跨导gmo323

5.8.7 测量结型场效应管的栅-源截止电压VGS（OFF）325

5.8.8 测量结型场效应管零偏压时的漏极电流IDSS、饱和区跨导gmo327

5.8.9 测量结型场效应管在漏极开路时的栅-源击穿电压V（BR）GSO等参数328

5.8.10 检查MOS场效应管（MOSFET）的方法329

5.8.11 检查VMOS场效应管的方法332

§5.9 检测晶闸管335

5.9.1 判定普通晶闸管（SCR）和快速晶闸管（FSCR）的电极336

5.9.2 检查晶闸管的触发能力（方法之一）338

5.9.3 检查晶闸管的触发能力（方法之二）339

5.9.4 检查晶闸管的触发能力（方法之三）340

5.9.5 检查晶闸管的触发能力（方法之四）340

5.9.6 测量晶闸管的直流转折电压V（BO）、反向击穿电压V（BR）等参数341

5.9.7 判定双向晶闸管（TRIAC）的电极并检查触发能力344

5.9.8 检查大功率双向晶闸管触发能力的方法348

5.9.9 检查双向晶闸管的好坏（方法之一）349

5.9.10 检查双向晶闸管的好坏（方法之二）350

5.9.11 检查双向触发二极管（DIAC）的方法351

5.9.12 检查硅单向开关（SUS）的方法354

5.9.13 检查硅双向开关（SBS）的方法356

5.9.14 检查可关断晶闸管（GTO）的方法358

5.9.15 检查硅控制开关（SCS）的方法361

5.9.16 检查逆导晶闸管（RCT）的方法366

§5.10 检测光电器件368

5.10.1 检查单色发光二极管LED（方法之一）369

5.10.2 检查单色发光二极管（方法之二）374

5.10.3 检查单色发光二极管（方法之三）377

5.10.4 检查单色发光二极管（方法之四）378

5.10.5 检查单色发光二极管（方法之五）379

5.10.6 检查双色发光二极管的方法379

5.10.7 检查三变色发光二极管（方法之一）381

5.10.8 检查三变色发光二极管（方法之二）383

5.10.9 区分高亮度、低亮度发光二极管的方法383

5.10.10 测量发光二极管的向电压VF384

5.10.11 测量发光二极管的正向电流IF和正向电压VF385

5.10.12 测绘发光二极管的伏安特性（方法之一）387

5.10.13 测绘发光二极管的伏安特性（方法之二）390

5.10.14 测绘变色发光二极管的伏安特性391

5.10.15 检查电压控制型发光二极管BTV（方法之一）392

5.10.16 检查电压控制型发光二极管（方法之二）396

5.10.17 检查闪烁发光二极管BTS（方法之一）398

5.10.18 检查闪烁发光二极管（方法之二）401

5.10.19 检测负阻型发光二极管（NRLED）的方法403

5.10.20 检查光电管的方法404

5.10.21 检查光电二极管的方法405

5.10.22 检查光电半导体管的方法407

5.10.23 检查红外线发射管与接收管411

5.10.24 检查光电开关的方法413

5.10.25 检查光电耦合器的方法415

5.10.26 测量光电耦合器的VF、VBC、VBE、hFE等项参数421

5.10.27 估测光电耦合器的电流传输能力422

5.10.28 测量光电耦合器的电流传输比（CTR）及饱和压降424

VCES424

5.10.29 区分通用型与达林顿型光电耦合器（方法之一）425

5.10.30 区分通用型与达林顿型光电耦合器（方法之二）426

5.10.31 检查光敏电阻的方法427

5.11.1 显示器概述429

§5.11 检测显示器件429

5.11.2 检查辉光数码管（NRT）的方法430

5.11.3 检查荧光数码管（VFD）的方法432

5.11.4 检查LED数码管（方法之一）436

5.11.5 检查LED数码管（方法之二）439

5.11.6 检查大型LED数码管的方法441

5.11.7 区分高亮度、普通亮度LED数码管的方法443

5.11.8 检查LED符号管的方法445

5.11.9 检查LED电平显示器的方法446

5.11.10 检查双位LED数码管的方法448

5.11.11 检查三位LED扫描显示器的方法449

5.11.12 检查多位LED扫描显示器的方法451

5.11.13 检查单色LED点阵显示器（方法之一）453

5.11.14 检查单色LED点阵显示器（方法之二）457

5.11.15 检查彩色LED点阵显示器的方法458

5.11.16 检查微型、高密度多位LED点阵显示器的方法460

5.11.17 检查微型多位LED显示器的方法464

5.11.18 检查LED面发光器件的方法465

5.11.19 检查CMOS-LED 组件的方法468

5.11.20 检查多位CMOS-LED组件的方法472

5.11.21 检查仪器、仪表专用液晶显示器（LCD）的方法476

5.11.22 检查计算器、电子表专用液晶显示器的方法481

5.11.23 检查液晶点阵显示器的方法482

5.11.24 检查CRT像元管的方法484

5.11.25 检查磁翻板显示器的方法487

§5.12 检测电真空器件488

5.12.1 检查电子管的阴极发射能力489

5.12.2 测量电子管的跨导S491

5.12.3 检查示波管的阴极发射能力493

5.12.4 检查黑白显像管的阴极发射能力496

5.12.5 检查彩色显像管的阴极发射能力496

5.12.6 测量示波管、显像管上的高压497

5.12.7 检测频闪管、闸流管的触发能力499

5.12.8 测量充气稳压管的稳定电压Us501

5.12.9 测量氖管、氖气辉光灯的着火电压Uz和熄灭电压UH502

5.12.10 测绘稳流管的伏安特性505

§5.13 检测电容器507

5.13.1 电容器的分类507

5.13.2 判定电解电容器的正、负极508

5.13.3 判定组合式电解电容器的极性509

5.13.4 测量电解电容器漏电流的方法510

5.13.5 检查电解电容器容量的方法513

5.13.6 快速检查电解电容器漏电阻的方法514

5.13.7 测量电容器绝缘电阻的方法515

5.13.8 测量电容器容量（方法之一）516

5.13.9 测量电容器容量（方法之二）519

5.13.10 测量电容器容量（方法之三）521

5.13.11 测量电容器容量（方法之四）522

5.13.12 测量电容器容量（方法之五）523

5.13.13 测量小电容器容量（方法之一）525

5.13.14 测量小电容器容量（方法之二）529

5.13.15 线性电容表530

5.13.16 五量程线性电容表532

5.13.17 测量电解电容器容量（方法之一）533

5.13.18 测量电解电容器容量（方法之二）536

5.13.19 测量电解电容器容量（方法之三）537

5.13.20 测量电解电容器容量（方法之四）538

5.13.21 测量微型记忆电容器的容量540

§5.14 检测电感器、变压器和互感器541

5.14.1 测量电感量（方法之一）541

5.14.2 测量电感量（方法之二）543

5.14.3 测量电感量（方法之三）546

5.14.4 判定变压器、互感器线圈极性547

5.14.5 测量变压器的每伏匝数548

5.14.6 测量互感M549

5.14.7 测量变压器的绝缘电阻550

§5.15 检测电动机551

5.15.1 判定电动机定子绕组的始、末端551

5.15.2 检查电动机的绝缘强度（方法之一）552

5.15.4 测量电动机的转速554

5.15.3 检查电动机的绝缘强度（方法之二）554

§5.16 检测特种开关556

5.16.1 检测指轮开关的方法556

5.16.2 检测薄膜开关的方法559

5.16.3 检测薄膜面板的方法563

§5.17 检测继电器565

5.17.1 测量灵敏电磁继电器（EMR）的方法565

5.17.2 检查固态继电器SSR（方法之一）567

5.17.3 检查固态继电器（方法之二）573

5.17.4 检查固态继电器组件的方法574

5.17.5 检查干式舌簧管DRC的方法575

§5.18 检测电声器件578

5.18.1 判定扬声器的极性（方法之一）578

5.18.2 判定扬声器的极性（方法之二）579

5.18.3 检查压电陶瓷片（方法之一）580

5.18.4 检查压电陶瓷片（方法之二）582

5.18.5 检查压电陶瓷片（方法之三）583

5.18.6 检查驻极体话筒的方法584

5.18.7 检查微型电磁讯响器的方法586

5.18.8 检查电子蜂鸣器的方法586

5.18.9 检查VT166A型功率音乐IC的方法588

5.18.10 检查石英晶体的方法589

§5.19 检测照明灯具594

5.19.1 检查日光灯管的起辉情况594

5.19.2 检查日光灯启辉器（方法之一）595

5.19.3 检查日光灯启辉器（方法之二）597

5.19.4 检查日光灯镇流器的方法597

5.19.6 检查环形日光灯管及黑光灯管599

5.19.5 检查经济日光灯的方法599

5.19.7 检查高压汞灯、碘钨灯、钠灯的起辉情况600

5.19.8 检查超高压球形汞灯的起辉情况602

5.19.9 检查霓虹灯的起辉方法604

§5.20 检测表头605

5.20.1 判定表头好坏的方法605

5.20.2 估测表头灵敏度和内阻的方法606

5.20.3 测量表头灵敏度的方法607

5.20.4 测量表头内阻（方法之一）608

5.20.5 测量表头内阻（方法之二）609

§5.21 检测放大器610

5.21.1 测量放大器的输入阻抗与输出阻抗（方法之一）610

5.21.2 测量放大器的输入阻抗与输出阻抗（方法之二）611

5.21.3 测量放大器的输入阻抗与输出阻抗（方法之三）612

5.21.4 测量收音机、录音机和扩音机的最大不失真输出功率613

§5.22 检测电池615

5.22.1 干电池负载电压测试法615

5.22.2 氧化银钮扣电池充电测试法616

5.22.3 镍络蓄电池的充电测试法617

5.22.4 检查硅光电池的方法622

§5.23 检测磁性元器件及设备624

5.23.1 检测软磁铁氧体磁芯624

5.23.2 检查霍尔元件的方法626

5.23.3 检查集成霍尔开关的方法629

5.23.4 检查磁饱和交流稳压电源的稳压特性632

§5.24 检测热敏元器件637

5.24.1 检查NTC热敏电阻器的方法637

5.24.2 检查PTC热敏电阻器的方法640

5.24.3 测量半导体热敏电阻器的温度系数αT643

5.24.4 检查热电偶的方法646

§5.25 检测过压保护元件649

5.25.1 检测火花放电器（SG）的方法649

5.25.2 检测压敏电阻器（VSR）的方法650

§5.26 检测力敏元件654

5.26.1 检测电阻应变片的方法654

5.26.2 检查压阻压力传感器656

§5.27 检测可燃性气体658

§5.28 测量温度663

5.28.1 利用PN结温度传感器测量温度663

5.28.2 利用AD 590型集成温度传感器测量温度666

5.28.3 利用HTS 1型集成温度传感器测量温度668

5.28.4 利用微型珠状半导体热敏电阻器测量温度671

5.28.5 利用LM 334型三端可调电流源测量温度672

5.28.6 测量温差的方法674

5.28.7 测量平均温度的方法676

§5.29 检测特种电阻器677

5.29.1 检测网络电阻的方法677

5.29.2 检测熔断电阻器的方法679

§5.30 探测金属680

§5.31 检测交流电源681

5.31.1 用测量法判定交流电源的火线681

5.31.2 用感应法判定交流电源的火线681

5.31.3 用接触法判定交流电源的火线682

5.31.4 确定绝缘导线断芯位置的方法684

5.31.5 测量电功率的简便方法685

§5.32 测量相位差Δφ686

§5.33 检测集成运算放大器691

5.33.1 集成运算放大器的分类691

5.33.2 检测LM 324系列低功耗四运放692

5.33.3 估测集成运算放大器的放大能力693

5.33.4 检测TL062型低功耗双运放696

5.33.5 检测ICL7650型斩波自稳零式精密运放697

5.33.6 检测LM 339系列低功耗低失调电压四比较器701

§5.34 检测线性集成稳压器702

5.34.1 线性集成稳压器的分类702

5.34.2 检测7800系列三端集成稳压器702

5.34.3 检测7900系列三端集成稳压器706

5.34.4 检测LM 2930系列低压差三端集成稳压器709

5.34.5 检测LM 317系列三端可调式集成稳压器711

5.34.6 检测LM 350系列三端可调式集成稳压器715

5.34.7 检测LM 338系列三端可调式集成稳压器716

§5.35 检测开关式集成稳压器717

5.35.1 开关式集成稳压器的特点及分类717

5.35.2 检测UC 3842系列脉宽调制器（PWM）718

5.35.3 检测L4960、L4962型单片开关式集成稳压器722

5.35.4 检测L 296、L 4964型大电流单片开关式集成稳压器728

5.35.5 检测TH 5002型大电流开关式集成稳压器731

5.35.6 检测SI-80506 Z型大电流固定输出开关式集成稳压器733

§5.36 检测特种电源集成电路735

5.36.1 检测MC 1403型能隙基准电压源735

5.36.2 检测ICL 7660型DC-DC电源变换器738

5.36.3 检测MAX 600系列AC-DC电源变换器741

§5.37 检测数字集成电路745

5.37.1 区分CMOS电路与TTL电路745

5.37.2 区分CMOS电路与高速CMOS电路747

§5.38 检测电源噪声滤波器（PNF）748

§5.39 检测电子模块755

5.39.1 电子模块的特点及分类755

5.39.2 检查线性稳压电源模块之一756

5.39.3 检查线性稳压电源模块之二759

5.39.4 检查直流电压／电流（V/I）转换模块760

5.39.5 检查逆变器模块762

5.39.6 检查三相整流器模块765

5.39.7 检查GTR模块766

5.40.1 微型电子元器件的分类及特点768

§5.40 检测微型电子元器件768

5.40.2 检测片状二极管和片状整流二极管770

5.40.3 检测片状晶体管773

5.40.4 检测微型高增益达林顿管774

5.40.5 检测微型发光二极管775

5.40.6 检测微型发射接收管776

5.40.7 检测微型多位LED显示屏和微型LED点阵显示器778

附录一 本书主要符号表781

附录二 万用表刻度盘上的符号及意义800

附录三 常用电量符号及单位换算801

附录四 八种常见万用表的参数计算表802

附录五 万用表主要生产厂家及产品型号813

附录六 本书所用集成电路国内外型号对照815

参考文献818