《X射线衍射与电子显微分析基础》求取 ⇩

第一章微观粒子的物理特性1

1-1 电子1

1-2 电子与物质的相互作用2

1-3 电磁波与X射线6

1-4 X射线谱8

1-5 X射线与物质的相互作用11

习题一16

第二章晶体学基础18

2-1 晶体与空间点阵18

2-2 晶体的对称性22

2-3 晶向与晶面24

2-4 倒易点阵26

2-5 晶面间距和晶面夹角28

2-6 晶带及晶带定律29

2-7 倒易面的绘制方法30

习题二31

第三章衍射几何32

3-1 布拉格方程32

3-2 干涉函数34

3-3 爱瓦尔德图解36

习题三39

第四章X射线衍射线的强度40

4-1 结构因数40

4-2 一个小晶体衍射的积分强度43

4-3 粉末多晶衍射的积分强度45

习题四50

第五章粉末衍射的实验方法51

5-1 德拜法51

5-2 聚焦法54

5-3 衍射仪法56

习题五61

第六章点阵参数的精确测定62

6-1 衍射线条的指数化62

6-2 用X射线法测定点阵参数的一般考虑65

6-3 德拜-谢乐法的系统误差66

6-4 点阵参数精确测定的方法68

6-5 用衍射仪法精确测定点阵参数71

习题六73

第七章X射线物相分析75

7-1 物相定性分析75

7-2 物相定量分析79

习题七83

第八章宏观内应力的测定85

8-1 引言85

8-2 用X射线测定宏观内应力的基本原理85

8-3 宏观内应力的测定方法87

习题八90

第九章单晶定向及多晶织构的测定91

9-1 晶体投影91

9-2 劳厄法95

9-3 单晶定向97

9-4 多晶织构的测定100

习题九106

第十章电子显微镜107

10-1 电子显微镜的产生107

10-2 电子束聚焦原理与磁透镜108

10-3 电磁透镜的像差和分辨本领111

10-4 透射电子显微镜的结构114

10-5 透射电子显微镜性能的检测118

习题十119

第十一章复型技术120

11-1 固体试样表面复型法120

11-3 复型试样的质厚衬度123

11-2 粉末试样制备123

11-4 改善复型图像衬度的方法125

11-5 复型图像分析与应用125

习题十127

第十二章电子衍射128

12-1 选区电子衍射128

12-2 透射电镜中的电子衍射130

12-3 多晶电子衍射花样的标定132

12-4 单晶电子衍射花样的标定133

12-5 复杂电子衍射花样136

习题十二141

13-1 薄膜试样的制备143

第十三章薄晶的电子显微分析143

13-2 衍衬像形成原理145

13-3 电子波在晶体中的衍射与传播146

13-4 衍射衬度的运动学理论148

13-5 缺陷晶体的运动学原理151

13-6 运动学理论的局限性155

13-7 相位衬度和高分辨像简介155

习题十三158

第十四章扫描电子显微镜159

14-1 扫描电子显微镜的成像原理及性能159

14-2 扫描电子显微镜的构造160

14-3 扫描电子显微镜的电子图像及衬度161

14-4 电子通道和晶体学衬度165

14-5 扫描电子显微镜的应用166

习题十四171

第十五章X射线显微分析172

15-1 电子探针的构造及分析原理172

15-2 电子探针的分析方法简介175

15-3 扫描电镜和X射线显微分析的试样制备176

习题十五177

第十六章表面分析178

16-1 表面科学与表面分析技术178

16-2 电子能谱仪180

16-3 扫描隧道显微镜186

习题十六188

附录189