《美国军用标准 MIL-STD-765B 计数抽样检查程序及表格》
作者 | 电子工业部标准化研究所编 编者 |
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出版 | 电子工业部标准化研究所 |
参考页数 | 65 |
出版时间 | 1973(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 无 — 求助条款 |
PDF编号 | 8737578(仅供预览,未存储实际文件) |
求助格式 | 扫描PDF(若分多册发行,每次仅能受理1册) |

内容1
1范围1
2缺陷和不合格品分类2
3不合格品率和每百单元缺陷数2
4可接收质量水平(AQL)3
5产品的提交4
6合格和不合格4
7样品的抽取5
8正常、加严和放宽检查5
9抽样方案6
10批的合格与不合格的决定7
11其它8
表10
表Ⅰ样品大小字码10
表Ⅱ—A一次正常检查抽样方案(主表)11
表Ⅱ—B一次加严检查抽样方案(主表)12
表Ⅱ—C一次放宽检查抽样方案(主表)13
表Ⅲ—A二次正常检查抽样方案(主表)14
表Ⅲ—B二次加严检查抽样方案(主表)15
表Ⅲ—C二次放宽检查抽样方案(主表)16
表Ⅳ—A多次正常检查抽样方案(主表)17
表Ⅳ—B多次加严检查抽样方案(主表)19
表Ⅳ—C多次放宽检查抽样方案(主表)21
表Ⅴ—A正常检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)23
表Ⅴ—B加严检查平均出厂质量上限系数(一次抽样)24
表Ⅵ— A极限质量(不合格品率),Pa= 10%(正常检查,一次抽样)25
表Ⅵ— B极限质量(每百单元缺陷数),Pa =10%(正常检查、一次抽样)26
表—A极限质量(不合格品率),Pa= 5%(正常检查、一次抽样)27
表Ⅶ一B极限质量(每百单元缺陷数),Pa= 5 %(正常检查、一次抽样)28
表Ⅷ放宽检查的界限数29
表Ⅸ 二次和多次抽样平均样品大小曲线30
各样品字码的抽样方案、抽查特性曲线及数值表:31
表X—A样品字码A31
表X—B样品字码B33
表X—C样品字码C35
表X—D样品字码D37
表X—E样品字码E39
表X—F样品字码F41
表X—G样品字码G43
表X—H样品字码H45
表X—J样品字码J47
表X—K样品字码K49
表X—L样品字码L51
表X—M样品字码M53
表X—N样品字码N55
表X—P样品字码P57
表X—Q样品字码Q59
表X—R样品字码R61
表X—S样品字码S63
专有名词索引64
1973《美国军用标准 MIL-STD-765B 计数抽样检查程序及表格》由于是年代较久的资料都绝版了,几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要,可向博主求助其电子版PDF文件(由电子工业部标准化研究所编 1973 电子工业部标准化研究所 出版的版本) 。对合法合规的求助,我会当即受理并将下载地址发送给你。
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