《表面层穆斯堡尔研究》
作者 | (俄)Г.Н.别洛泽尔斯基(Г.Н.Белозерский) 编者 |
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出版 | 北京:原子能出版社 |
参考页数 | 430 |
出版时间 | 1996(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 7502214380 — 求助条款 |
PDF编号 | 86869718(仅供预览,未存储实际文件) |
求助格式 | 扫描PDF(若分多册发行,每次仅能受理1册) |

目录1
第一章 方法的物理原理1
1.1穆斯堡尔谱学的一般特点1
1.2穆斯堡尔谱中的超精细相互作用和谱线位置5
1.3谱线的相对强度15
1.4实验22
参考文献28
第二章 基于电磁辐射探测的穆斯堡尔谱学30
2.1穿越物质的辐射30
2.2低能γ量子的散射45
2.3共振荧光和干涉效应51
2.4散射γ辐射的角度依赖关系67
2.5穆斯堡尔γ量子的散射作为表面研究的方法71
2.6探测特征X射线的散射实验91
2.7探测X射线的背散射穆斯堡尔谱学理论96
2.8探测X和γ辐射的背散射穆斯堡尔谱学及其实验情况110
参考文献117
第三章 基于电子探测的穆斯堡尔谱学122
3.1穆斯堡尔散射后的电子与物质的相互作用123
3.2基于电子束指数衰减的内转换电子穆斯堡尔谱学理论135
3.3基于基本的电子相互作用的内转换电子穆斯堡尔谱学理论146
3.4深度选择内转换电子穆斯堡尔谱学160
3.5β谱和深度选择内转换电子穆斯堡尔谱学的权重函数172
3.6由深度选择内转换电子穆斯堡尔谱学确定近表层结构190
3.7在内转换电子穆斯堡尔谱学中用正比计数管作为电子探测器203
3.8用正比计数管的深度选择212
3.9以穆斯堡尔谱学的表面全反射来分析薄层229
3.10内转换电子穆斯堡尔谱学中的其它探测方法238
3.11通道计数器和很低能量电子的探测243
参考文献250
第四章 穆斯堡尔背散射谱262
4.1权重函数和再散射263
4.2散射γ辐射的强度估算268
4.3X射线和电子的强度估算274
4.4谱线形状和强度比280
4.5穆斯堡尔谱的质量287
4.6穆斯堡尔谱的定量信息291
4.7逐层分析298
参考文献303
第五章 表面层分析的实用情况307
5.1金属和合金的腐蚀研究307
5.2在金属物理中的应用335
5.3金属的离子注入和激光处理351
5.4表层自旋织构的研究369
5.5其它应用382
参考文献393
变量和缩写411
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