《固体物理实验方法》求取 ⇩

1.1 单晶生长4

1.1.1 熔融法4

第一章试样制备的基本知识4

1.1.2 溶液法7

1.1.3 汽相生长法10

1.1.4 固相生长11

1.2 试样加工12

1.2.1 晶体定向12

1.2.2 试样的切割、研磨和抛光13

1.3 薄膜制备15

1.3.1 真空蒸发薄膜15

1.3.2 溅射薄膜21

1.3.3 其它薄膜技术23

1.3.4 薄膜生长过程24

1.4.1 非晶态生成条件25

1.4 非晶态和准晶态试样制备25

1.4.2 急冷法27

1.4.3 其它非晶态制备方法27

参考书目28

第二章固体X射线学29

2.1 散射理论与强度公式29

2.1.1 小晶体的衍射强度30

2.1.2 多晶体的衍射强度31

2.1.3 小角散射31

2.1.4 热漫散射和黄昆漫散射32

2.1.5 康普顿散射33

2.2 X射线衍射仪的实验技术33

2.2.1 X射线衍射仪的结构及工作原理33

2.2.2 衍射仪主要实验参数的选择37

2.2.3 衍射仪用的试样制备与常用测量方法39

2.3 物相分析40

2.3.1 定性相分析原理及方法40

2.3.2 定量相分析43

2.4 精确测定点阵参数法44

2.4.1 衍射峰位2θm的确定45

2.4.2 误差的来源46

2.4.3 消除误差的图解外推法47

2.5 晶体取向的测定47

2.5.1 衍射仪法测定晶体取向47

2.6 X射线衍射貌相术47

2.6.1 貌相图的衍衬成象原理49

2.6.2 貌相术的实验方法50

2.6.5 貌相术的应用53

2.7.1 原理54

2.7 扩展X射线吸收谱精细结构54

2.7.2 实验测量方法55

2.7.3 数据处理56

2.7.4 X射线吸收谱近限结构57

2.8 非晶态径向分布函数的测定58

2.8.1 非晶态结构分析的主要计算公式58

2.8.2 实验方法61

2.8.3 数据处理62

2.9 中子衍射63

2.9.1 中子散射的主要特点64

2.9.2 中子衍射仪64

参考书目65

参考文献65

第三章电子显微术66

3.1 透射电子显微术67

3.1.1 基本原理68

3.1.2 实验装置77

3.1.3 实验方法80

3.1.4 应用举例82

3.2 扫描电子显微术83

3.2.1 基本原理83

3.2.2 实验装置90

3.2.3 实验方法91

3.2.4 应用举例93

3.3 电子探针微区成分分析94

3.3.1 基本原理94

3.3.2 实验装置100

3.3.3 实验方法103

3.3.4 应用举例106

参考书目107

参考文献107

第四章表面物理实验方法108

4.1 低能电子衍射111

4.1.1 二维周期结构112

4.1.2 LEED的运动学原理113

4.1.3 LEED实验装置114

4.1.4 实验方法116

4.1.5 结果分析117

4.1.6 LEED的动力学理论简介118

4.2 俄歇电子能谱121

4.2.1 俄歇效应121

4.2.2 定性分析122

4.2.3 定量分析124

4.2.4 实验装置126

4.2.5 实验方法127

4.3 光电子能谱129

4.3.1 光电子发射130

4.3.2 定性分析132

4.3.3 定量分析134

4.3.4 实验装置136

4.3.5 实验方法137

4.4 二次离子质谱139

4.4.1 二次离子发射139

4.4.2 SIMS分析140

4.4.3 实验设备和实验方法141

参考书目143

参考文献144

第五章内耗与超声衰减146

5.1 内耗146

5.1.1 基本原理146

5.1.2 内耗测量的方法150

5.1.3 三种常见的内耗类型155

5.1.4 应用160

5.2 固体介质的超声衰减和声速161

5.2.1 基本原理162

5.2.2 实验方法和装置163

5.2.3 衰减及声速的修正169

5.2.4 实例与应用174

参考书目178

参考文献178

第六章半导体的电学测量180

6.1 电阻率的测量——直线四探针法180

6.1.1 基本原理180

6.1.2 实验装置183

6.1.3 实验方法184

6.1.4 应用185

6.2 少数载流子寿命的测量——光电导衰退法186

6.2.1 基本原理187

6.2.2 实验装置190

6.2.3 实验方法191

6.2.4 应用192

6.3 深能级中心参数的测量——深能级瞬态谱193

6.3.1 基本原理194

6.3.2 实验装置202

6.3.3 实验方法202

6.3.4 应用203

6.4 用准静态法测量硅－二氧化硅界面态密度的能量分布204

6.4.1 基本原理204

6.4.2 实验装置210

6.4.3 实验方法211

6.4.4 应用212

参考文献212

7.1.1 基本原理214

第七章固体光谱214

7.1 紫外及可见光谱214

7.1.3 实验方法224

7.1.2 实验装置225

7.1.4 应用228

7.2 红外光谱228

7.2.1 基本原理229

7.2.2 实验装置233

7.2.3 实验方法238

7.2.4 应用238

7.3 喇曼光谱240

7.3.1 基本原理240

7.3.2 实验装置244

7.3.3 晶格振动谱的分析248

7.3.4 应用253

7.4 布里渊散射255

7.4.1 基本原理255

7.4.2 实验装置256

7.4.3 实验方法258

7.4.4 弹性常数的测定260

7.4.5 应用262

参考书目262

参考文献263

第八章发光光谱264

8.1 光致发光谱264

8.1.1 基本原理264

8.1.2 实验装置268

8.1.3 实验方法271

8.2.1 基本原理274

8.2 电致发光谱和阴极荧光谱274

8.1.4 应用274

8.2.2 实验装置和方法276

8.2.3 应用277

8.3 发光衰变和时间分辨谱278

8.3.1 基本原理278

8.3.2 实验装置和方法280

8.3.3 应用283

8.4 外场扰动下的发光光谱283

8.4.1 基本原理283

8.4.2 实验方法和应用284

参考书目286

参考文献286

第九章磁共振287

9.1 核磁共振287

9.1.1 基本原理287

9.1.2 实验方法及装置298

9.1.3 固体高分辨核磁共振简介305

9.2 电子顺磁共振306

9.2.1 EPR的基本原理306

9.2.2 实验装置——EPR谱仪308

9.2.3 电子顺磁共振波谱的分析方法311

9.2.4 电子顺磁共振的测量319

参考书目322

参考文献322

第十章低温与超导实验324

10.1 低温液体324

10.1.1 基本原理324

10.1.2 实验装置和实验方法326

10.2.1 温度的测量330

10.2 固体的低温物理性质330

10.2.2 热容的测量333

10.2.3 热导的测量337

10.2.4 电阻和磁化率的测量338

10.3 超导材料性能的测量338

10.3.1 基本原理339

10.3.2 实验装置和实验方法339

10.4 超导磁体343

10.4.1 基本原理343

10.4.2 实验装置和实验方法344

10.5 约瑟夫森效应及其应用347

10.5.1 基本原理347

10.5.2 实验装置和实验方法351

参考书目354

11.1 离子束分析355

11.1.1 卢瑟福背散射谱（RBS）355

第十一章核物理方法355

11.1.2 沟道效应及其应用364

11.1.3 带电粒子感生的X射线分析369

11.2 正电子湮没谱371

11.2.1 固体中的正电子湮没372

11.2.2 基本实验方法374

11.2.3 正电子湮没领域中若干新技术379

11.2.4 正电子湮没方法在金属和固体物理中的应用举例379

11.3 穆斯堡尔谱381

11.3.1 基本原理381

11.3.2 核与化学环境间的超精细相互作用384

11.3.3 谱仪和实验方法简介388

11.3.4 穆斯堡尔谱在固体物理研究参考书目398

参考文献398

第十二章固体物理的高压研究方法400

12.1.1 静态高压的产生401

12.1 静态高压的产生和测量401

12.1.2 静态高压的测量413

12.2 高压下若干物性的实验研究方法418

12.2.1 高压下物质电阻的测量418

12.2.2 高压激光喇曼光谱方法422

12.2.3 高压X射线衍射方法424

12.3 高温高压下的材料合成方法426

12.3.1 高温高压合成方法的发展426

12.3.2 高压在材料的固态合成中的作用428

12.3.3 高温高压下人造金刚石的合成429

12.4 应用431

参考书目434

参考文献435

附录437

名词索引475