徐辉著的《数字电路老化预测与容忍》围绕负偏 置温度不稳定性引起的集成电路老化的预测与动态电 路老化防护来展开研究,主要针对集成电路老化的预 测和集成电路老化的容忍进行分析;对于高性能集成 电路中常用的多米诺电路,针对其老化研究容忍方法 ,并提出对多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方 法。 本书可供计算机专业本科生、研究生以及教师阅 读参考。

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