作者: 张晓宇,刘伟雄主编;张经龙,张旭宇,林凤功副主编 出版: 武汉:华中科技大学出版社 页数: 202    ✅ 真实服务 非骗流量  ❤️ 出版时间: 2016.01 (求助前请核对清楚) 求助编号:9 13963568 0 (学习资料 勿作它用) 求助格式:PDF(无水印/扫描版)我要投诉 重要说明:求助即说明同意《文件求助条款》   Word/doc、ePubb、mobi、PPT、TXT
  • 全书内容包括绪论、测量技术基础、极限与配合、几何公差、表面粗糙度、量具与光滑极限量规、典型零件公差配合及检测、尺寸及几何公差测量技术。

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