《系统芯片SoC的设计与测试》高清PDF
作者:潘中良著
出版:北京:科学出版社
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出版时间:2009.10 (求助前请核对清楚)
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本书对系统芯片SoC的设计与测试技术进行了全面阐述。全书共分为16章,主要内容包括:系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、IP芯核的设计、软/硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片的物理设计、系统芯片的可测性设计、数字逻辑芯核的测试、模拟与混合信号芯核的测试、嵌入式存储器的测试、系统芯片设计实例等。
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