《表1 氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量测定质量监控计划》

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《X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质含量的质量控制方法》

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注:*方法比对为XRF法与化学湿法[5-7]比对；其中Na2O测定采用的是文献[7]中的方法2。

本实验室平均每天受检氧化铝样品有6～7个，用化学湿法满足不了生产的需求，因此日常工作中本实验室采用XRF（设备型号:S8Tiger）进行分析。为保证XRF分析氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的准确性，本实验室考虑检验前过程、检验过程和检验后过程的要求，结合本公司实际情况，制定了适宜有效的质量监控计划，根据计划对检测活动及结果实施有效性进行监控[4]。本实验室制定的质量监控计划见表1。