《表2 校准曲线用标准物质》
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《X射线荧光光谱微区分析在元素赋存状态研究中的应用》
选用16个扫描电镜、电子探针分析用标准样品作为校准样品（中国地质科学院矿产研究所研制），见表2。
| 图表编号 | XD0083167900 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.08.01 |
| 作者 | 刘玉纯、梁述廷、刘瑱、林庆文 |
| 绘制单位 | 安徽省地质实验研究所、安徽省地质实验研究所、安徽省地质实验研究所、安徽省地质实验研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
