《表6 海水淡化水处理药剂中干扰校正方程》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《海水淡化水处理药剂中杂质元素的电感耦合等离子体质谱法》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

注:Cu—铜；Cd—镉；Ba—钡；M—质量数。

ICP-MS中的干扰主要可分为两大类:质谱干扰和非质谱干扰。其中质谱干扰包括同质异位素重叠干扰、多原子或加合物离子干扰、难熔氧化物离子干扰及双电荷离子干扰。通过优化仪器参数，调节合适的RF功率、雾化气流量来控制仪器的氧化物产率和双电荷产率。海水淡化水处理药剂样品基体较复杂，处理液中含有的氯离子以及载气中氩（Ar）对部分元素测定造成干扰，如52Cr会受到40Ar12C干扰，75As会受到40Ar35Cl干扰，80Se会受到40Ar40Ar干扰等，在测定时需要对选用恰当流速的NH3作为反应气降低40Ar12C、40Ar35Cl及40Ar40Ar的干扰进行校正。针对Cu和Ba等元素测试，通过输入干扰校正方程可有效地减少干扰，部分元素的干扰校正方程见表6。非质谱干扰主要来源于样品的基体及仪器测定过程中产生的漂移，此类干扰会引起信号的抑制或增强，本次实验选用Rh作为内标元素，采用三通阀连接内标液管与样品进样管按照1∶1的比例在线加入内标溶液，对基体效应、仪器的漂移进行补偿和校正，通过对内标回收率的监测来保证数据的准确。