《表5 方案层判断矩阵B4-C》
扫测设备选型涉及的成像效率、成像质量、设备价格、设备运行维护费用等因素都是相互制约和相互影响的。本文通过查阅文献,听取专家意见,根据判断矩阵的构建方法,得出准则层判断矩阵A-B,以及方案层判断矩阵B1-C、B2-C、B3-C、B4-C,分别见表1~表5。
图表编号 | XD0063797000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.15 |
作者 | 陈冬、东培华、袁媛 |
绘制单位 | 中设设计集团股份有限公司、中设设计集团股份有限公司、中设设计集团股份有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |