《表4 CMV4000型offset寄存器的出厂设置》
提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名：随高清版一同展现
《8T-全局曝光CMOS图像传感器单粒子翻转及损伤机理》
CMV4000型CIS像素阵列输出的模拟信号经过器件内的ADC转换成数字信号输出并形成图像。ADC在每次信号转换之前都会进行器件的offset寄存器单粒子翻转异常图像采样、ADC的量化范围设定、共模电平调整等操作，其目的是为了在后续处理电路中消除offset寄存器单粒子翻转导致的异常图像，得到准确的量化数据。通过调整offset寄存器的相应设置，实现其对像素暗电平输出的校正。上述offset寄存器单粒子翻转异常图像的消除过程受寄存器参数的控制，在本实验使用的检测系统中，offset寄存器的出厂设置如表4所示。
| 图表编号 | XD0062552000 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.05.10 |
| 作者 | 汪波、王立恒、刘伟鑫、孔泽斌、李豫东、李珍、王昆黍、祝伟明、宣明 |
| 绘制单位 | 中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国科学院新疆理化技术研究所辐射效应实验室、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所元器件保证事业部、中国 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
