《表1 加速老化试验失效时间和失效率》
提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名：随高清版一同展现
《基于韦布尔分布和对数正态分布的高功率半导体激光器寿命估计和失效分析研究》
试验中将性能差别微小的同批次18个器件通过温度控制器使热沉温度恒定，分成三组，每组6个器件，使有源区温度保持在353、363、378 K下进行老化测试（由于CS器件存在热阻，有源区温度高于热沉25 K，热沉温度固定，有源区温度就固定了），工作电流恒定为60 A，器件功率衰减为初始值的80%则认为失效。加速老化试验的失效时间和失效率如表1所示，其中t1i、t2i和t3i是器件有源区温度为353、363、378 K时第i个样品的失效时间。失效率无偏估计的计算公式为[1]:
| 图表编号 | XD0052495700 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.04.25 |
| 作者 | 聂志强、王明培、孙玉博、李小宁、吴迪 |
| 绘制单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点试验室、中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点试验室、中国科学院大学、中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点试验室、中国科学院大学、西安炬光科技股份有限公司、西安炬光科技股份有限公司 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
