《表4 两组随访期复发与生存情况比较》

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《窄带成像技术在胃黏膜高级别上皮内瘤变内镜黏膜下剥离术中的应用价值》

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WLE组术后随访7～59月，平均（29.05±10.38）个月，随访期复发率11.22%，生存率93.88%；NBI组术后随访5～60月，平均（30.74±12.53）个月，随访期复发率0.88%，生存率99.12%。NBI组复发率低于WLE组，差异有统计学意义（P<0.05），两组生存率差异无统计学意义（P<0.05）。见表4。