《表1 图3中各数字所代表的距离》
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《TFT-LCD HADS显示模式下黑白Mura机理研究及设计优化》
测试示意图如图2所示,SEM测试选取连续的一段区域,贯穿OK区、黑区、白区、OK区,每个区域拍摄SEM图,测试1ITO、2ITO、数据线线及宽相对位置关系,如图3所示,测量数据见表1。
图表编号 | XD0045472000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.03.01 |
作者 | 郑箫逸、袁帅、崔晓鹏、林鸿涛、陈维涛、薛海林、邵喜斌 |
绘制单位 | 北京京东方显示技术有限公司、北京京东方显示技术有限公司、北京京东方显示技术有限公司、北京京东方显示技术有限公司、北京京东方显示技术有限公司、北京京东方显示技术有限公司、北京京东方显示技术有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |