《表2 常规A超检测和串列式扫查结果比较》
a.在公司模拟件上检测,能有效检测出与扫查面垂直缺陷。模拟件形状尺寸制作要求见图2。常规A超检测和串列式扫查结果比较如表2。
图表编号 | XD0043787400 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.04.25 |
作者 | 胡锡宁、贾潇 |
绘制单位 | 陕西西宇无损检测有限公司、陕西西宇无损检测有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
a.在公司模拟件上检测,能有效检测出与扫查面垂直缺陷。模拟件形状尺寸制作要求见图2。常规A超检测和串列式扫查结果比较如表2。
图表编号 | XD0043787400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.04.25 |
作者 | 胡锡宁、贾潇 |
绘制单位 | 陕西西宇无损检测有限公司、陕西西宇无损检测有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |