《表2 常规A超检测和串列式扫查结果比较》

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《串列式扫查架研制》


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a.在公司模拟件上检测,能有效检测出与扫查面垂直缺陷。模拟件形状尺寸制作要求见图2。常规A超检测和串列式扫查结果比较如表2。