《表1 人工涂污样品Na元素谱线强度对比》

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《基于激光诱导击穿光谱的绝缘子表面污秽研究》

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从图4分别提取Na元素在588.78 nm、589.50nm两个激发态下的强度值如表1所示。从表1可以看出，当盐密从0.2 mg/cm2增加到0.5 mg/cm2时，Na元素在588.84 nm、589.44 nm两个激发态下的强度值分别增加了327.57%和402.05%。表明LIBS系统可以有效判断不同盐密值下的人工涂污绝缘片。