《表4 CSC-MS和S-CSC-MS的XPS C 1s分峰拟合数据》

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为了鉴别S-CSC-MS表面的活性基团类别，对C 1s峰（295～275 eV处吸收峰）进一步进行XPS高分辨率扫描，结果见表4。S-CSC-MS材料表面石墨碳所占比例降至45.88%，而羟基和羰基（C=O）碳的比例分别升至25.91%和17.25%，尤其是羧基碳的比例大幅增加，由2.79%增至10.96%。由此可见，硫酸铵改性CSC-MS过程完全符合硫酸铵改性碳材料的机理，也表明硫酸铵改性是一种能够有效地在CSC-MS表面引入大量含氧基团的改性方法。