《表1 试验绝缘子的基本结构参数》

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《基于放电紫外成像特征的污秽线路盘形绝缘子绝缘状态评估》

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实验试品为XP-70和XWP2-70两种瓷瓷绝缘子，结构参数见表1。紫外成像仪型号为CoroCAM504，泄漏电流信号采用了8Ω精密无感电阻取样，由PCI8502数据采集卡进行采集，每秒保存一次数据。