《表1 制作样品的能谱分析 (归一化)》
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随机抽取制作的芯片，进行电镜扫描和能谱分析。在EUO MA10型ZEISS扫描电子显微镜下观测，硫化铅薄膜的能谱分析数据见表1，SEM图如图1所示。
| 图表编号 | XD0030623700 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.01.18 |
| 作者 | 邹红军、张翔、魏小梅、杨剑 |
| 绘制单位 | 陕西华星电子集团有限公司、陕西华星电子集团有限公司、陕西华星电子集团有限公司、陕西华星电子集团有限公司 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
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