《表2 查找表中各Bit位对应的内容》
NAND Flash的结构特点导致数据存储过程中可能存在误码,ECC(Error Correcting Code)作为一种数据检错纠正算法,通过增加冗余数据对存储于NAND Flash中的数据进行编码,是NAND Flash在使用时确保数据准确存储的一项关键技术[10-12]。本文设计了一种基于汉明码高性能ECC校验方法,采用FPGA实现并应用于NAND Flash存储逻辑设计中。每256 byte原始数据通过计算得到6 bit列校验码、16bit行校验码,共22 bit,存放于NAND Flash的冗余区,存放格式如表1所示。为加快FPGA的计算速度,实现逻辑中事先计算好256个数的各自的列校验码,并存储至FPGA内部。此方法是以牺牲FPGA内部逻辑单元来换取处理速度,利用查找表找出行校验码和列校验码。该表以字节数做下标,采用FPGA编程计算并存储0~255个字节的行校验码和列校验码。查找表中的每个字节的各bit位的含义如表2所示,各字节校验的仿真结果如图4所示。
图表编号 | XD0029455700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.01.25 |
作者 | 朱金瑞、王代华、苏尚恩、王晓楠 |
绘制单位 | 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室、中北大学电子测试技术国家重点实验室、中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室、中北大学电子测试技术国家重点实验室、北方导航控制技术股份有限公司、中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室、中北大学电子测试技术国家重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |