《表5 t=5 000 h时总线胚胎电子阵列工作状态及概率Table 5 Work states and probability of BBEEA at t=5 000 h》

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《基于多态系统的总线胚胎电子阵列可靠性分析》

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总线胚胎电子阵列具有故障自修复能力，但是故障自修复能力是有限的，为了保证电子系统长时间处于正常工作状态，必须研究阵列的预防性维修。基于多态系统的总线胚胎电子阵列可靠性分析模型可以通过计算得到阵列在任意时刻的工作状态及对应概率，通过阵列处于不同工作状态的概率可以衡量阵列的工作性能，从而为预防性维修提供指导。以4.1节中总线胚胎电子阵列在t=5 000 h时工作为例，阵列的状态及各个状态对应概率如表5所示。