《表3 待测元素的质谱干扰和不同模式下的背景等效浓度 (BEC)》

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《柔性集装袋原料中杂质元素的质谱分析》

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在所有待测元素中，除Hg和Pb以外，其余元素均为中质量元素，存在严重的质谱干扰。表3列出了各元素潜在的质谱干扰，可以看出，Cr、Fe、Cu、Zn、As、Cd的质谱干扰不容忽视，必须进行校正或消除，否则会直接影响测定结果的准确性。本实验选择CRC技术消除干扰，考察了待测元素在普通模式（不使用CRC）和CRC氦碰撞模式下各元素的背景等效浓度（BEC）值。从表3可以看出，普通模式下，Cr、Fe、Cu、Zn、As、Cd的BEC值远大于氦碰撞模式下获得的BEC值，而Hg和Pb，采用普通模式和氦碰撞模式所获得的BEC基本没变化，表明在氦碰撞模式下，Cr、Fe、Cu、Zn、As、Cd的质谱干扰得到了较好的消除，而Hg和Pb的质谱干扰基本不影响测定。因此，本实验选择启用CRC技术，在氦碰撞模式下测定Cr、Fe、Cu、Zn、As、Cd，而Hg和Pb的测定则无需采用CRC技术，在普通模式下进行测定。