《表1 根据配方组分对C和N元素各分峰的官能团归属》

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《NEPE推进剂/衬层界面研究进展》

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XPS是目前应用最广的固体表界面分析技术之一[9-14]，国内前期开展了XPS用于固体推进剂/衬层界面的探索研究[15-16]。经过研究得到了一些新认识[17]:易挥发的硝酸酯在建立高真空过程中逸出，XPS检测不到；AP和HMX两种填料因为表面包覆，只能检测裸露部分，检出率低于理论值1~2个数量级。这些认识为XPS应用于含NEPE推进剂样品的表界面分析扫除了障碍。在上述认识基础上，通过分峰，根据配方组分对各谱峰进行官能团归属（见表1），得到了C和N元素各化学态的原子分数在界面的分布曲线及分析结果见图4，界面存在明显的键合剂BA富集。XPS图谱上却没有发现HMX聚集，是因为HMX被BA所包覆。