《表2 痕量多元素（n≥4）的分析文献要点》

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《X射线荧光光谱在痕量和超轻元素分析中的应用评介》

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注：*检出限用符号LOD表示，单位为μg/g；精密度通过相对标准偏差（RSD）体现，单位为%。

XRF是一种多元素分析技术，这里收集到的痕量多元素（n≥4）的分析文献59篇。其中技术方法文献13篇已在前面介绍[1-13]，应用文献43篇要点列于表2。