《表2 各元素曲线建线范围和校正系数》
X射线荧光光谱的干扰校正方法,根据待测元素和干扰元素的区别,主要包括了基本参数法、理论系数法、经验系数法和试验校正法。在我们目前的研究中,以专业的分析统计软件spectrap-Plus,对不同标定方法建立的标定曲线的标准差进行了检验。测定的RSD越小,则曲线越满足样品真实浓度与荧光强度之间的线性对应关。表2的分析测试结果表明,通过对上述公式中的三个系数的校正,可以有效减小校准曲线的标准偏差。因此,当对每个元素进行系统综合分析并选择适当的校正系数时,进行系数校正时的标准偏差最小。
图表编号 | XD00203762400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.10.15 |
作者 | 靳涛、刘凤莲 |
绘制单位 | 山东省厨具产品质量监督检验中心、山东省厨具产品质量监督检验中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |