《表2 四种薄膜电滞回线参数》
图2为四种薄膜的电滞回线,表2为电滞回线的参数值,分析图2和表2可知,有氧条件下溅射的PZT薄膜饱和极化和剩余极化强度最大,分别为143.99和52.31μC/cm2,矫顽电场最小为21.25kV/cm。其原因在于,溅射时通入的O2为晶粒生长提供了充足的O原子,导致薄膜晶体晶界能下降,有利于晶粒充分生长。此外,PZT(有氧)/ZnO复合薄膜的极化强度较小。这是因为ZnO不是优良导体,测试时外加电压部分降落在ZnO薄膜上,影响了PZT薄膜的极化。从表2还可以看出,和LiNbO3薄膜相比,PZT薄膜的铁电性能更加优异。
图表编号 | XD00188410500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 朱彦旭、杨壮、李赉龙、杨忠、李锜轩 |
绘制单位 | 北京工业大学光电子教育部重点实验室、北京工业大学光电子教育部重点实验室、北京工业大学光电子教育部重点实验室、北京工业大学光电子教育部重点实验室、北京工业大学光电子教育部重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |