《表2 基于THz QWP的成像系统参数》
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从THz成像技术来说，必须开发高响应率、高探测灵敏度的探测器，以达到提升成像系统信噪比的目的。基于THz QWP成像系统关键性能参数如表2。
| 图表编号 | XD00185315400 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2020.05.01 |
| 作者 | 符张龙、李锐志、李弘义、邱付成、谭智勇、邵棣祥、张真真、顾亮亮、万文坚、曹俊诚 |
| 绘制单位 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所太赫兹固态技术重点实验室、中国科学院上海微系统与信息技术研究所太赫兹固态技术重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海微系统与信息技术研究所太赫兹固态技术重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海微系统与信息技术研究所太赫兹固态技术重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海微系统与信息技术研究所太赫兹固态技术重点实验室、中国科学院上海微系统与信息技术研究所太赫兹固态技术重点实验室、中国科学院大学、中国科学院上海微系统与信息技术研究所太赫兹固态技术重点实验室、上海理工大学 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
