《表2 通孔缺陷的检出率：基于超声相控阵的全聚焦三维成像》

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《基于超声相控阵的全聚焦三维成像》

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取缺陷幅值最大处为缺陷位置，表1对比了通孔缺陷5在全聚焦图像、增益处理后全聚焦图像及实际试块上的位置信息。表2则对比了增益前后全聚焦成像对缺陷的检出率。结果表明:增益处理前后对缺陷的检测定位并无太大影响；但通过增益处理后的图像质量更高，漏检率更低。