《表1 Bulk-C3N4、bulk-650-10和bulk0.8-650-10的荧光寿命》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《氨氛围热处理g-C_3N_4控制N空位浓度提高光催化制氢性能》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

PL可以用于研究光生电子-空穴的复合行为。图5a为样品在370 nm激发波长激发下的稳态荧光光谱。可以看出，尿素的加入，可以降低稳态荧光光谱强度。这充分说明，尿素的加入可以降低光生电子-空穴对的复合率，这可能是由于尿素分解产生的NH3气氛，抑制了N空位的浓度，进而降低了光生电子-空穴对的复合。表1是由bulk-C3N4、bulk-650-10和bulk0.8-650-10样品的瞬态荧光光谱（图5b）计算得到的平均寿命，分别为1.44、0.49和0.95 ns。bulk-650-10样品的平均荧光寿命比bulk-C3N4样品的寿命短，说明热处理促进了N空位缺陷的生成，从而抑制光生电子-空穴对的复合22。值得注意的是，bulk0.8-650-10样品的平均荧光寿命比bulk-650-10样品的寿命长，进一步证实尿素加入，原位分解产生的NH3可以降低N空位的浓度，从而提升了光生载流子的寿命。