《表3 不同高温应力条件下管芯的伪失效寿命Tab.3 The peso-failure lifetimes of SLD chip in different high temperature stre
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利用管芯的退化轨迹方程，以及拟合得到的参数，经过外推可以得到各组试验条件下管芯退化至失效（输出功率降至50%）时的时间，即伪失效寿命，不同高温应力条件下管芯的伪失效寿命如表3所示。
| 图表编号 | XD0016815600 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2018.02.05 |
| 作者 | 杨云、任艳、于迪、周军连、戴泽林 |
| 绘制单位 | 工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第五研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
