《表4 灰样的X射线荧光光谱分析》
XRF是通过X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,受激发样品中每种元素会放射出二次X射线,并且不同元素所放出的二次X射线具有特定的能力特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能力及数量可以确定元素的种类及含量。利用X射线荧光光谱分析仪,可以有效探测出渣样在Na-U范围内的金属元素以及其平均含量。其中O元素均以氧化物形式出现,C元素由于测试强度太低,无法通过XRF测试。仪器型号:Thermo ESCALAB 250型X射线光电子能谱仪。具体分析结果见表4。
图表编号 | XD00168056100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.06.10 |
作者 | 罗秀朋、魏宏大、周皓 |
绘制单位 | 北京航天动力研究所、北京航天动力研究所、北京航天动力研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |