《表3 正凌公司插针能谱分析元素体积比》
从图1可以看出,插针表面没有明显腐蚀现象发生,其插针表面堆积了一层物质。这层物质比较疏松,而且覆盖不完整,比较松散,有可能是SP-2002S薄膜与盐的混合物形成。因而,对插针表面500×放大图的3号位置做了能谱分析,进一步确认该位置镀层是否腐蚀以及疏松物成分。能谱分析结果见表3。
图表编号 | XD0016666900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.09.15 |
作者 | 赖复尧、仝晓刚、敖辽辉、苏欣 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第十研究所、中国电子科技集团公司第十研究所、中国电子科技集团公司第十研究所、中国电子科技集团公司第十研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |