《表1 耐辐照试验测试结果》

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《电离室电路耐辐照性能研究》

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安装铅块防护电离室电路辐照试验情况如图7所示，试验照射累计4 085 Gy。电路累积剂量在0～2 430 Gy区段，脉冲计数率变化率在﹣11%～﹣4.83%之间，脉冲计数与累计剂量近似线性下降趋势。累计剂量在2 430～2 990 Gy区段，脉冲计数率变化率在﹣49%～﹣40%之间，计数率下降幅度增大，在2 990～4 085 Gy区间，脉冲计数率出现大幅扰动，变化率在﹣66%～28%之间。在试验结束时电路仍能输出脉冲。整理2项试验的数据，结果如表1所示。其中，可用累计剂量参考国标[5]中对于辐射探测器统计涨落的要求，探测器计数率变异系数小于20%视为可用。