《表2 短路电压为15V时, 不同短路时间下薄膜双面串联结构短路实验结果Tab.2 Results of short-circuit experiments of the double-si-ded
在短路电压为15V时,对限流器单元A1、B1、A1与B1串联组成的双面串联结构薄膜、A1与B1并联组成的双面并联结构薄膜分别进行短路实验,短路时间为20~100ms。在薄膜双面并联结构的短路实验中,A1与B1各自串联一个直流固态继电器和一个保护电阻,这样可避免短路电流超过直流固态继电器的承受能力,导致继电器被损坏。对不同结构的薄膜,在不同的短路时间分别测量A1与B1两端的电压、电流,得到在A1、B1各种情况下产生的失超电阻,分别如表1、表2、表3所示。由于能够通过基片实现热学连接,短路实验中双面结构薄膜的两面能够实现同步失超。
图表编号 | XD0016295000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.06.24 |
作者 | 段晚晴、傅明利、罗兵、唐跃进、刘通、梁义浪、杜全军 |
绘制单位 | 南方电网科学研究院有限责任公司、华中科技大学、南方电网科学研究院有限责任公司、南方电网科学研究院有限责任公司、华中科技大学、南方电网科学研究院有限责任公司、重庆市科学技术研究院、深圳市乐买宜电子有限公司 |
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