《表1 4 5 0 kV光管极限分辨力》

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《圆盘法在工业CT性能测量过程中的应用》

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式中:c为系统相关参数，一般取1～2之间；Ressp为空间分辨力[11]。本文所采用X射线源为450kV的X射线机，其焦点尺寸为0.4mm，平板探测器的节距为195μm，放大倍数与载物台、平板探测器和射线源之间的位置有关，当载物台尽可能靠近射线源时，得到极限放大比。取c=2，根据极限放大倍数计算出工业CT的空间分辨力，如表1所示。