《表2 基线和峰位置采用校准算法处理前后的结果及校准精度》

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《基于多层修饰电极在便携式恒电位仪系统中的电化学算法优化》

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经预处理后寻峰误差在0.36%以下，表明寻峰方法的准确性较高。预处理计算后，本文第1.1节实验所得的一组×2菌液检测电极中间修饰过程的CV曲线的原始基线斜率和峰位置如表2所示，图6（a）的曲线2由于基线斜率最接近于0被选作基准曲线。如图6（b）所示，经基线和峰位置校准后，其余3条曲线的基线与曲线2的基线基本平行，基线斜率偏差已全部收敛于5×10-4的阈值范围内；3条曲线的峰位置也已基本移至曲线2峰位置的同一位置，峰位置的校准误差在1.23%以下。同时，对其余5组×2菌液检测电极的中间修饰过程曲线数据进行相同处理，其峰位置校准误差的平均值均在1.23%以下。