《表2 嵌入式诊断设计示例》
表注:中央处理器(CPU:Central Processing Unit);双倍速率同步动态随机存储器(DDR SDRAM:Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory);闪存(FLASH:Flash Memory);高速串行计算机扩展总线(PCIE:Peripheral Component Interconnect Express);身份识
通过制订合理可行的测试性设计准则将测试性要求及使用和保障约束转化为具体的产品设计准则,以指导和检查产品的测试性设计。通过开展诊断设计,对组成产品的各个层次进行嵌入式诊断和外部测试设计,包括诊断策略设计、嵌入式诊断详细设计、测试点详细设计、诊断逻辑和测试程序设计、外部测试设各兼容性设计等。如某型综合显示控制系统的显示处理单元部分嵌入式诊断设计项目如表2所示。
图表编号 | XD00160009000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.01 |
作者 | 王骥、马玉林 |
绘制单位 | 海军驻上海地区第十军事代表室、中国航空无线电电子研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |