《表4 内标元素45Sc、115In和209Bi对测定的校正作用》

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样品在ICP-MS分析过程中,由于基体或第三元素的存在使待测元素的信号强度发生漂移从而形成非谱线干扰。对这种现象通常采用内标校正的方法克服,但是由于不同的内标元素对不同质量数范围的元素的校正作用不同,因此若采用同一内标对全部测定元素进行校正,可能导致部分元素的测定结果产生更大的偏差[13]。在实验中,采用质量数比较接近待测元素质量数的45Sc、115In、209Bi元素作内标,由45Sc、115In、209Bi元素作为混合内标校正基体效应产生的影响,结果示于表4中。从表4可以看出,对于Cr、As 2种元素,宜采用45Sc为内标元素;对于Cd元素,应采用115In为内标元素,对于Pb元素,应使用209Bi为内标元素。