《表2 阻燃多孔硅胶样品TG和DTG分析结果》
表2为阻燃多孔硅胶样品热失重(TG)和热失重速率(DTG)分析结果。其中T5为样品失重5%时对应的温度;T1max、T2max、T3max和T4max分别为不同失重阶段最大质量损失率对应的温度;PMLR1、PMLR2、PMLR3和PMLR4分别为不同失重阶段最大热失重速率;残炭率为1000℃时固体残余量。图7、图8分别为EG添加量不同的阻燃多孔硅胶样品的TG、DTG曲线图。结合图7—8和表2可以看出:添加EG后,阻燃多孔硅胶失重阶段由2个增加为4个。第一阶段为EG层间的低分子化合物析出,这一阶段基本出现在262~272℃之间。第二阶段为阻燃多孔硅胶中烷基支链的分解断裂,纯多孔硅胶失重温度为367℃,比EG添加量为15%的阻燃多孔硅胶失重温度低21℃,有效缓解了多孔硅胶中烷基支链的分解。第三阶段主要为阻燃多孔硅胶硅氧键的断裂,以SiO2形式释放。纯多孔硅胶主链断裂的温度为476℃,比EG添加量为15%的阻燃多孔硅胶低44℃。可以看出,EG的引入可以有效地延缓多孔硅胶主链被破坏。第四阶段为EG完全膨胀,石墨蓬松结构在热流作用下进一步被破坏,并伴有硅氧键断裂。从失重5%来看,随着EG添加量增加,温度增加到361℃后开始缓慢下降;而当EG添加量达到25%时,失重5%时对应的温度急速下降,说明加入大量EG,在初始阶段会有大量气体放出并降低燃点,这一点从图3的点火时间可以验证。从残炭率来看,EG的加入降低了残炭率,主要原因是EG为插层化合物,层间物质在高温下会热解析出,大幅度降低残炭率。此外,EG单独使用,不能形成坚固的蓬松结构,致使EG保护层容易被热流破坏,EG碎片逃逸。
图表编号 | XD00148614900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.08.01 |
作者 | 庞青涛、邓军、邵水源、严瑾 |
绘制单位 | 西安科技大学安全学院、陕西煤业化工新型能源有限公司、西安科技大学安全学院、西安科技大学材料学院、陕西能源职业技术学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |