《表2 随机颗粒三维位置反演结果》

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《基于光场相机层析法的颗粒三维位置测量》

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为了保证实验结果的可靠性，在同样的重建空间内随机产生十个颗粒，采用改进型MART算法反演颗粒的三维空间位置.准备多张大小及厚度均相等的亚克力薄片，每张薄片上布置一个黑色圆点模拟实验颗粒.通过导轨调节相机镜头与薄片间的距离，使圆点的深度位置与理论深度位置一致，精度为0.1 mm；通过控制黑色圆点在水平方向上与镜头中心的距离，使圆点的水平位置与理论水平位置一致，精度为0.1 mm；通过控制黑色圆点在垂直方向上与镜头中心的距离，使圆点的垂直位置与理论垂直位置一致，精度为0.1 mm表2为颗粒的理论坐标与反演坐标，图14表示颗粒反演坐标与理论坐标在三个方向上的绝对误差：水平位置误差在±0.16 mm以内，垂直位置误差在±0.18 mm以内，深度位置误差在±1.8 mm以内，其中深度误差略小于上组实验的绝对误差，说明颗粒的空间定位精度主要由深度精度决定.考虑到生产生活中使用的流体体积较大，可以认为该方法的精度满足实际应用需要，并且为光场相机配合显微装置测量更加细微的颗粒提供良好基础.