《表1 离子束加工工艺参数》
为了研究入射角度对单晶硅表面质量的影响,实验中使用离子束机床在相同工艺参数、不同入射角度下对单晶硅表面进行处理,实验照片如图10(a)所示,在样件表面溅射出20mm×60mm的斜面区域,溅射深度由0到500nm,测量得到溅射后工件表面误差分布如图10(b)所示。离子束加工工艺参数如表1所示。
图表编号 | XD00147689800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.06.25 |
作者 | 宋辞、田野、石峰、张坤、沈永祥 |
绘制单位 | 国防科技大学智能科学学院、湖南省超精密加工技术重点实验室、装备综合保障技术重点实验室、国防科技大学智能科学学院、湖南省超精密加工技术重点实验室、装备综合保障技术重点实验室、国防科技大学智能科学学院、湖南省超精密加工技术重点实验室、装备综合保障技术重点实验室、国防科技大学智能科学学院、湖南省超精密加工技术重点实验室、装备综合保障技术重点实验室、国防科技大学智能科学学院、湖南省超精密加工技术重点实验室、装备综合保障技术重点实验室 |
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